本實驗為偏振光學(xué)的基礎(chǔ)實驗，包括偏振光的產(chǎn)生、檢驗以及特性的研究和重要的應(yīng)用。內(nèi)容涉及調(diào)制偏振光、波片特性研究、相位延遲測量等多方面的知識。可作為光電、光信息、光學(xué)工程、光電檢測等專業(yè)的本科或研究生教學(xué)，也可作為科研部件應(yīng)用。調(diào)制偏振光在光學(xué)精密測量和光學(xué)信息傳遞中具有重要的應(yīng)用價值，光學(xué)相位延遲測量系統(tǒng)的研究，可用于光學(xué)延遲器的相位延遲，也可以用于產(chǎn)生任意的光學(xué)相位延遲量。